MESA-50有害元素螢光X射線分析儀

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MESA-50

有害元素螢光X射線分析儀

產品類別:ROHS限制物質檢測設備

主要功能:RoHS條例限制元素分析及膜厚測量

應用產業:PCB產業 其它產業 塗鍍層產業 緊固件產業

生產廠商:其它廠商

 MESA-50有害元素螢光X射線分析儀產品類別:ROHS限制物質檢測設備主要功能:RoHS條例限制元素分析及膜厚測量

 

產品簡介 MESA-50

有害元素螢光X射線分析儀

產品類別:ROHS限制物質檢測設備

主要功能:RoHS條例限制元素分析及膜厚測量

應用產業:PCB產業 其它產業 塗鍍層產業 緊固件產業 生產廠商:其它廠商

 

  

 

 

 

 

 

 

 

HORIBA 累積數十年EDXRF分析的經驗,開發出全新世代RoHS / ELV/ 無鹵專用分析裝置 MESA-50 。堅持檢量線的精準與移動式的便利,結合SDD 偵測器與專用X-射線產生器,搭配1.2mm/3mm/7mm三種照射尺寸從精細的電子零件到包裝塊材,都可以分析。新概念的設計讓分析更快速、檢測更準 確,大幅減少成本與時間!

 

產品特色

Speedy 矽漂移探測器可大幅減少測量時間,並提供更高的靈敏度,有效提高分析量MESA-50 搭載新式SDD

 

提高光譜強度與解析度

大幅降低備景

 4組光譜過濾器,包括一個可同時檢測Pb/Cd/Hg/Br/Cr/Sb/As的獨特過濾器。

採用新靶材的X-ray光管,除了提升訊號強度,更可有效提高Cl的感度,且不需要加裝真空系統。

操作人員可依據樣品尺寸選擇最適尺寸,並透過清晰的光學系統調整位置。

 

 

 

 

 

 

 

Small 可攜式,精簡的尺寸與輕量化,內含高容量電池Size 208(W) x 294(L) x 205(J) mm Weight 12kg

可攜式的尺寸,搭配可使用達6小時的高容 量鋰電池,讓操作地點沒有限 制。 而且無需擔心有X-ray洩漏的問題!! 

 

Simple 不需使用液態氮,也不需要真空系統,開機即可使用材質自動判定機能,可準確計算背景強度,不同的材質所產生的scattered X-ray強度也不同,會影響到計算時background的判定。HORIBA開發出新的演算法,可根據不同材質來調整背景的數值,操作人員不需要另外 選擇材料參數,避免判定上的誤差及簡化操作流程。

 

Smart 多組快速鍵設計,單鍵即可完成測試提供Excel data manager與符合國際規範的報告書

 

 18組快速鍵,使用者可將參數及測量時間 預先輸入,測量時單鍵即可快速 啟動 Excel data manager 可根據限制物質濃度的規定調整,當測量數值介於臨界時,機台將自動延長時間,再依據結果判定是否合格或需進一步分析。 

 

 

 

HORIBA 累積數十年EDXRF分析的經驗,開發出全新世代RoHS / ELV/ 無鹵專用分析裝置 MESA-50 。堅持檢量線的精準與移動式的便利,結合SDD 偵測器與專用X-射線產生器,搭配1.2mm/3mm/7mm三種照射尺寸從精細的電子零件到包裝塊材,都可以分析。新概念的設計讓分析更快速、檢測更準 確,大幅減少成本與時間! 產品特色Speedy 矽漂移探測器可大幅減少測量時間,並提供更高的靈敏度,有效提高分析量MESA-50 搭載新式SDD 提高光譜強度與解析度● 大幅降低備景 4組光譜過濾器,包括一個可同時檢測Pb/Cd/Hg/Br/Cr/Sb/As的獨特過濾器

 

 

 

 

 

 

 

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