MESA-50有害元素螢光X射線分析儀
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MESA-50 有害元素螢光X射線分析儀 產品類別：ROHS限制物質檢測設備 主要功能：RoHS條例限制元素分析及膜厚測量 應用產業：PCB產業 其它產業 塗鍍層產業 緊固件產業 生產廠商：其它廠商 |
產品簡介 MESA-50
有害元素螢光X射線分析儀
產品類別：ROHS限制物質檢測設備
主要功能：RoHS條例限制元素分析及膜厚測量
應用產業：PCB產業 其它產業 塗鍍層產業 緊固件產業 生產廠商：其它廠商
HORIBA 累積數十年EDXRF分析的經驗，開發出全新世代RoHS / ELV/ 無鹵專用分析裝置 MESA-50 。堅持檢量線的精準與移動式的便利，結合SDD 偵測器與專用X-射線產生器，搭配1.2mm/3mm/7mm三種照射尺寸從精細的電子零件到包裝塊材，都可以分析。新概念的設計讓分析更快速、檢測更準 確，大幅減少成本與時間！
產品特色
Speedy 矽漂移探測器可大幅減少測量時間，並提供更高的靈敏度，有效提高分析量MESA-50 搭載新式SDD
● 提高光譜強度與解析度
● 大幅降低備景
採用新靶材的X-ray光管，除了提升訊號強度，更可有效提高Cl的感度，且不需要加裝真空系統。
操作人員可依據樣品尺寸選擇最適尺寸，並透過清晰的光學系統調整位置。
Small 可攜式，精簡的尺寸與輕量化，內含高容量電池Size 208(W) x 294(L) x 205(J)
mm ，Weight 12kg
可攜式的尺寸，搭配可使用達6小時的高容 量鋰電池，讓操作地點沒有限 制。 而且無需擔心有X-ray洩漏的問題!!
Simple 不需使用液態氮，也不需要真空系統，開機即可使用材質自動判定機能，可準確計算背景強度,不同的材質所產生的scattered X-ray強度也不同，會影響到計算時background的判定。HORIBA開發出新的演算法，可根據不同材質來調整背景的數值，操作人員不需要另外 選擇材料參數，避免判定上的誤差及簡化操作流程。
Smart 多組快速鍵設計，單鍵即可完成測試提供Excel data manager與符合國際規範的報告書
18組快速鍵，使用者可將參數及測量時間 預先輸入，測量時單鍵即可快速 啟動 Excel data manager 可根據限制物質濃度的規定調整，當測量數值介於臨界時，機台將自動延長時間，再依據結果判定是否合格或需進一步分析。
HORIBA
累積數十年EDXRF分析的經驗，開發出全新世代RoHS / ELV/
無鹵專用分析裝置 MESA-50
。堅持檢量線的精準與移動式的便利，結合SDD
偵測器與專用X-射線產生器，搭配1.2mm/3mm/7mm三種照射尺寸從精細的電子零件到包裝塊材，都可以分析。新概念的設計讓分析更快速、檢測更準
確，大幅減少成本與時間！
產品特色Speedy
矽漂移探測器可大幅減少測量時間，並提供更高的靈敏度，有效提高分析量MESA-50
搭載新式SDD●
提高光譜強度與解析度●
大幅降低備景
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鼎晶科技/Tomas ATG/TTG百輝/溫澤 BRILLANT 3D製造商(德國授權)
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