X-Strata 980 X-RAY螢光膜厚及元素分析量測儀

產品簡介:

X-Strata 980係列能夠執行膜厚量測及元素分析。使用高解析度檢測器提高元素量測之精度及膜厚量測之準確度，使用小準直器對於小點可以進行元素分析，也可對於產品進行掃描後顯示有害元素的組成及含量分布圖。

適用行業:

用於電子元件、半導體、PCB印刷電路板、汽車零件、功能性電鍍、連接器、裝飾件等。

產品特色:

●25mm2 PIN 檢測器
●100W射線管
●多準直器配置
●掃描分析及元素成像功能
●靈活運用多種分析模式
●結果顯示樣品合格/不合格
●超大樣品倉
●同時分析元素含量及鍍層厚度

產品應用:

─ RoHS/WEEE 檢驗
─ 有害元素痕量分析
─ 焊料合金成分分析和鍍層厚度測量
─ 電子產品中金和鈀鍍層的厚度測量
─ 五金電鍍、CVD、PVD鍍層的厚度測量
─ 貴金屬合金分析和牌號鑒定

●X-Strata980 配有超大功率X射線光管和高靈敏度探測器，能夠滿足複雜樣品和微小測試面積的檢測需求。

●有害元素檢測結果可精確到ppm級，確保產品滿足環保要求，幫助企業降低高昂的產品召回成本和法令執行成本。該款儀器性能卓越，能夠分析包括多層複雜塗鍍層、SAC合金、µPPF和太陽能電池板等複雜應用。

●電製冷固態探測器確保極佳的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率極高，能更容易地識別、量化和區分相鄰的元素。超大探測器靈敏窗口大幅提高了計數率，大多數的分析能在數秒或數分種內完成。靈活組合運用五個初級濾波器，使X光管激發效率達到最佳，得到最優的應用效果。

●儀器測量直徑最小可達到150微米，可供選擇的準直器直徑有0.1、0.2、0.3和1.27毫米。特別設計的鋁鈦板在檢測輕製樣品時能大幅降低背景噪音，從而達到更低的檢測下限。對電子產品上的關鍵組裝區域進行快速篩選性檢測 。

●儀器在設定的檢測程序中可通過掃描功能一次性快速分析大面積的指定區域。一旦識別出問題區域，即可對特定小點進行定量分析。掃描分析及元素分布成像功能能夠快速識別複雜組件中的含鉛的零部件或連接件。該款儀器內置數碼影像裝置，能夠精確顯示樣品擺放位置及測試點位置。樣品掃描映射成像圖中可對各種待測元素設置不同顏色，然後形成單種或多種元素的組成及含量分布圖。

●根據不同應用，您可以選擇不同的分析方法：經驗係數法、基本參數法或兩者結合。如果您知道分析物的元素組成矩陣和含量範圍，經驗係數法是合金分類和元素含量分析的最佳檢測方法。當無法預知準確的元素組成或標準片不完備情況時，可選用基本參數法，通過儀器擁有的完整光譜數據庫，對基材和鍍層進行可信的厚度測量和元素定量分析，測試範圍可從ppm至%。

●自由距離測量及超大型樣品艙數據統計功能強大，包括平均值、標準偏差、柱狀圖和管理圖表。數據實時導出，可以保存為Excel格式，並快速生成分析報告。用戶能設置快捷鍵，對樣品進行一鍵校準。用戶界面提供9種操作語言大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規則的樣品。可在0.5” 至3.5”(12.7mm to 88.9mm)範圍內自由調節聚焦距離，來實現對樣品不同表面的測量。樣品艙內部空間580mmx510mmx230mm。封閉樣品艙設計能徹底防止輻射汙染，特別針對塑料等輕質樣品的檢測過程而設計。大艙門使樣品更易放入。

●自定義程序能通過自定義報告清晰顯示樣品測試是否合格或不合格，還可設置其他針對特定被測元素的報警程序。專業報告生成軟件，可證明用戶在檢測消費品是否含有有害元素的過程中所採取的盡職措施。

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